Fysik AV, Materialkaraktärisering, 6 hp
Observera att kurslitteraturen kan ändras/revideras fram till:
• 1 juni för en kurs som startar på höstterminen
• 15 november för en kurs som startar på vårterminen
• 1 april för en kurs som startar på sommaren
Skriv ut eller spara kursplanen som PDF
Du kan enkelt skriva ut en kursplan direkt från webbsidan. Använd kortkommandot ctrl+p (Windows) eller command+p (Mac). I nästa steg väljer du om du vill skriva ut eller spara kursplanen som PDF.
För en nedlagd kurs kan eventuell information om avvecklingsperiod hittas under rubriken "Övergångsregel" i senaste versionen av kursplanen.
Kursplan för:
Fysik AV, Materialkaraktärisering, 6 hp
Physics MA, Materials Characterization, 6 credits
Allmänna data om kursen
- Kurskod: FY020A
- Ämne huvudområde: Fysik
- Nivå: Avancerad
- Högskolepoäng: 6
- Fördjupning vs. Examen: A1N - Kursen ligger på avancerad nivå och har endast kurs(er) på grundnivå som förkunskapskrav.
- Utbildningsområde: Naturvetenskap 100%
- Ansvarig fakultet: Fakulteten för naturvetenskap, teknik och medier
- Ansvarig institution: Naturvetenskap
- Fastställd: 2017-08-16
- Giltig fr.o.m: 2017-07-01
Syfte
Ge fördjupade teoretiska och praktiska kunskaper om mikroskopi, diffraktion, spektroskopi och termisk analys och om hur dessa metoder kan användas för att studera nanomaterial, mikrostrukturer och ytor.
Lärandemål
Den studerande ska vid avslutad kurs ha uppvisat:
- kunskap om de fysikaliska principerna för ett antal karaktäriseringsmetoder såsom ljusmikroskopi, svepelektronmikroskopi, transmissionselektronmikroskopi, röntgendiffraktion, sveptunnel- och atomkraftmikroskopi, röntgenspektroskopi, elektronspektroskopi, jonmasspektroskopi, vibrationsspektroskopi och termisk analys, samt vilken information dessa metoder ger.
- viss praktisk färdighet inom elektronmikroskopi, diffraktion, spektroskopi och termisk analys samt förmåga att tolka mätdata
Innehåll
De teoretiska grunderna för ljusmikroskopi, svepelektronmikroskopi, transmissionselektronmikroskopi, röntgendiffraktion, sveptunnel- och atomkraftmikroskopi, röntgenspektroskopi, elektronspektroskopi, jonmasspektroskopi, vibrationsspektroskopi och termisk analys. Praktiska mätningar och analys av mätdata från elektronmikroskopi, diffraktion, spektroskopi och termisk analys.
Behörighet
Fysik GR (A-B), 30 hp.
Teknik- eller naturvetenskapliga kurser, 30 hp
Fysik GR (C), Fasta tillståndets fysik I, 6 hp eller Kemi GR (B), Molekylär struktur, 6 hp.
Urvalsregler
Urval sker i enlighet med Högskoleförordningen och den lokala antagningsordningen.
Undervisning
Undervisningen bedrivs i form av ett eller flera av föreläsningar, videoföreläsningar eller handledningsträffar, samt laborationer. Ingående laborationsmoment är obligatoriska
Examination
4,0 hp, Tentamen
Betyg: A, B, C, D, E, Fx eller F. A - E är Godkänt, Fx och F är underkänt.
2,0 hp, Laboration
Betyg: Underkänd (U) eller Godkänd (G)
Betygsskala
På kursen ges något av betygen A, B, C, D, E, Fx och F. A - E är Godkänt, Fx och F är underkänt.
Litteratur
Obligatorisk litteratur
- Författare/red: Yang Leng
- Titel: Materials Characterization, Introduction to microscopic and spectroscopic methods
- Förlag: John Wiley & Sons Ltd
Förutom obligatorisk litteratur består kurslitteraturen av utdelat material
Kolla om litteraturen finns på biblioteket