Fysik AV, Materialkaraktärisering, 7,5 hp

Observera att kurslitteraturen kan ändras/revideras fram till: 
• 1 juni för en kurs som startar på höstterminen
• 15 november för en kurs som startar på vårterminen
• 1 april för en kurs som startar på sommaren 

Skriv ut eller spara kursplanen som PDF

Du kan enkelt skriva ut en kursplan direkt från webbsidan. Använd kortkommandot ctrl+p (Windows) eller command+p (Mac). I nästa steg väljer du om du vill skriva ut eller spara kursplanen som PDF.

 

För en nedlagd kurs kan eventuell information om avvecklingsperiod hittas under rubriken "Övergångsregel" i senaste versionen av kursplanen.


Versioner:
Gå till kursen

Kursplan för:
Fysik AV, Materialkaraktärisering, 7,5 hp
Physics MA, Materials Characterization, 7,5 credits

Allmänna data om kursen

  • Kurskod: FY026A
  • Ämne huvudområde: Fysik
  • Nivå: Avancerad nivå
  • Högskolepoäng: 7,5
  • Fördjupning vs. Examen: A1N - Avancerad nivå, har endast kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav
  • Utbildningsområde: Naturvetenskapliga området 100%
  • Ansvarig institution: Ingenjörsvetenskap, matematik och ämnesdidaktik
  • Fastställd: 2025-02-20
  • Giltig fr.o.m: 2025-09-01

Syfte

Ge fördjupade teoretiska och praktiska kunskaper om mikroskopi, diffraktion, spektroskopi och termisk analys och om hur dessa metoder kan användas för att studera nanomaterial, mikrostrukturer och ytor.

Lärandemål

Efter avslutad kurs ska studenten kunna:

  • redogöra för de fysikaliska principerna för ett antal karakteriseringsmetoder såsom ljusmikroskopi, svepelektronmikroskopi, transmissionselektronmikroskopi, röntgendiffraktion, sveptunnel- och atomkraftmikroskopi, röntgenspektroskopi, elektronspektroskopi, jonmasspektroskopi, vibrationsspektroskopi och termisk analys, samt vilken information dessa metoder ger;
  • genomföra mätningar inom elektronmikroskopi, diffraktion, spektroskopi och termisk analys och kunna tolka erhållna mätdata.
  • redovisa experimentella data på ett vetenskapligt relevant sätt och som insamlats med en materialkarakteriseringsmetod.

Innehåll

De teoretiska grunderna för ljusmikroskopi, svepelektronmikroskopi, transmissionselektronmikroskopi, röntgendiffraktion, sveptunnel- och atomkraftmikroskopi, röntgenspektroskopi, elektronspektroskopi, jonmasspektroskopi, vibrationsspektroskopi och termisk analys.

Praktiska mätningar och analys av mätdata från elektronmikroskopi, diffraktion, spektroskopi och termisk analys. Experimentell träning i en för materialvetenskapliga ämnet relevant instrumentteknik.

Behörighet

Avlagd kandidatexamen eller högskoleingenjörsexamen om minst 180 hp i fysik, teknisk fysik, kemi, elektroteknik eller motsvarande. I utbildningen på grundnivå ska minst 60 hp fysik eller teknisk fysik och 30 hp matematik ingå.

Engelska kurs 6 från svenskt gymnasium eller motsvarande.

Urvalsregler

Urval sker i enlighet med Högskoleförordningen och den lokala antagningsordningen.

Undervisning

Undervisningen bedrivs i form av ett eller flera av föreläsningar, videoföreläsningar, seminarier eller handledningsträffar, samt laborationer. Undervisningen ges i normalfallet på engelska.

Examination

L101: Laboration, 2 hp
Betygsskala: Tvågradig skala

M101: Muntlig redovisning av projekt, 1,5 hp
Betygsskala: Tvågradig skala

T101: Skriftlig tentamen, 4 hp
Betygsskala: Sju-gradig skala, A-F o Fx

Länk till betygskriterier: https://www.miun.se/betygskriterier.


Om en student har ett besked från samordnaren vid Mittuniversitetet om pedagogiskt stöd vid funktionsnedsättning, har examinatorn rätt att ge anpassad examination för studenten.


Begränsning av examination

Studenter registrerade på denna version av kursplan har rätt att examineras 3 gånger inom loppet av 1 år enligt angivna examinationsformer. Därefter gäller examinationsform enligt senast gällande version av kursplan.

Betygsskala

Sju-gradig skala, A-F o Fx

Övrig information

Kursen kan inte ingå i samma examen som kursen FY020A Materialkaraktärisering, 6 hp.

Litteratur

Välj litteraturlista:

Obligatorisk litteratur

Författare/red: Yang Leng
Titel: Materials Characterization, Introduction to microscopic and spectroscopic methods
Förlag: John Wiley & Sons Ltd

Utdelat material tillkommer.

Kolla om litteraturen finns på biblioteket

Sidan uppdaterades 2024-08-15